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SIGMA


Votre MEB-FEG pour l’imagerie haute qualité et la microscopie analytique avancée

Détection modulaire. Workflow en 4 étapes. Analyse avancée.

Combinez la technologie à effet de champ sur votre MEB et l’analyse avancée. Profitez de la colonne Gemini. Choisissez parmi un grand nombre de détecteurs optionnels: vous pouvez imager des particules, des surfaces et des nanostructures. Gagnez un temps précieux avec le workflow en 4 étapes du Sigma: Standardisez vos routines d’imagerie et de micro-analyse et augmentez votre productivité.

Sigma 300 propose un excellent rapport qualité-prix. Profitez de la rapidité de l’analyse élémentaire avec la géométrie de premier rang pour l’EDX du Sigma 500.
Vous pouvez compter sur des résultats précis et reproductibles – sur tous les échantillons, tout le temps.

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Détection modulaire pour des images nettes

  • Adaptez le Sigma à vos besoins en utilisant les technologies de détection de dernière génération et caractérisez tous vos échantillons.
  • Obtenez des informations de topographie et de composition avec le détecteur optionnel InLens Duo.
  • Profitez de la nouvelle génération de détecteur d’électrons secondaires (SE). Obtenez des images avec près de 50% de signal en plus. Bénéficiez des nouveaux détecteur C2D et VPSE du Sigma en mode pression variable: vous pouvez vous attendre à des images nettes avec plus de 85% de contraste en plus même en pression réduite.

Automatisez et accélérez votre flux de travail

  • Un flux de travail en 4 étapes vous donne le contrôle de toutes les fonctionnalités de votre Sigma. Profitez d’un temps réduit pour imager vos échantillons et gagnez du temps sur la formation – surtout dans un environnement multi-utilisateurs.
  • Tout d’abord, naviguez sur votre échantillons puis définissez les conditions d’imagerie optimales.
  • Ensuite, acquérez des images de plusieurs échantillons en utilisant des régions d’intérêts. Utilisez, pour finir, la dernière étape de votre flux de travail et visualisez contextuellement vos résultats.

Microscopie analytique avancée

  • Combinez la microscopie et l’analyse élémentaire: la géometrie EDX de Sigma vous permet d’optimiser vos travaux de microanalyse, plus particulièrement sur des échantillons sensibles.
  • Récupérez des résultats d’analyse avec deux fois moins de courant et deux fois plus rapidement.
  • Obtenez des microanalyses précises et sans ombrage avec votre FESEM. Profitez de la faible distance de travail analytique de 8,5 mm et de l’angle de “take-off” de 35°.

Basé sur la technologie Gemini éprouvée

  • Le design de la lentille objectif Gemini combine un champ magnétique et électrostatique pour maximiser les performances optiques tout en réduisant au minimum les influences du champ au niveau de l’échantillon. Ceci donne d’excellentes images, même sur des échantillons difficiles comme dans le cas de matériaux magnétiques.
  • Le concept de la détection dans la colonne assure une détection efficace en imageant les électrons secondaires et/ou rétrodiffusés, réduisant ainsi le temps pour obtenir une image.
  • La technologie du “beam booster” garanti des tailles de sonde réduites et de forts rapports signal sur bruit.

Détection modulaire pour des images nettes

  • Caractérisez tous vos échantillons avec les technologies de détection de dernière génération.
  • Obtenez des informations topographiques et à haute résolution avec les nouveaux détecteurs ETSE et Inlens en mode haut vide.
  • Enregistrez des images nettes en mode pression variable avec le détecteur VPSE ou C2D.
  • Obtenez des images haute résolution en transmission avec le détecteur aSTEM.
  • Etudiez la composition de votre échantillon avec le détecteur BSD4 ou YAG.

Solution EDS Intégrée : Sigma Element

Quand l’imagerie à haute définition rencontre l’analyse à faible énergie

Sigma Element est une solution EDS intégrée à forte convivialité et faible sensibilité à la haute tension. L’intégration améliore la convivialité en utilisant un seul PC pour commander à la fois l’EDS et le MEB. La commande en parallèle est possible en même temps grâce aux interfaces utilisateur dédiées pour le microscope et la commande EDS.

  • Intégration: imagerie à haute définition combinée avec l’analyse rapide pour des résultats optimaux avec une convivialité maximale
  • Personnalisation: logiciel personnalisable pour différents besoins des utilisateurs
  • Sensibilité: la fenêtre exclusive en nitrure de silicium améliore la détection à basse énergie

ZEISS Atlas 5 – Maîtrisez l’imagerie Multi-échelle

Atlas 5 vous simplifie la vie: créez des images multi-échelles, multimodales avec un environnement logiciel qui met votre échantillon au centre du workflow de travail. Atlas 5 est une suite logicielle et matérielle qui étend les capacités de votre MEB ZEISS.

Visualization and Analysis Software

ZEISS recommande Dragonfly Pro de Object Research Systems (ORS)

Une solution avancée d’analyse et de visualisation pour vos données 3D acquises par une variété de technologies, y compris les rayons X, FIB-SEM, SEM et microscopie à l’hélium.

Anciennement Visual SI Advanced, Dragonfly Pro offre des techniques de visualisation haute définition et des graphiques de pointe. Dragonfly Pro prend en charge la personnalisation grâce à des scripts Python faciles à utiliser. Les utilisateurs ont maintenant le contrôle total de leur environnement de post-traitement des données 3D et des flux de travail.

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